1、光特性測試

　　光特性測試主要是對光纖傳輸光性能的測試。光特性測試一般包括中繼段衰減測試、光纖后向散射曲線測試、光纖接續(xù)點(diǎn)的連接衰減測試和多模光纖的傳輸帶寬測試。由于目前采用的光纖主要為單模光纖，所以光特性測試以前3項為主。

　　(1)中繼段衰減測試

　　光纜線路中繼段衰減一般由光纖的本征衰減、光纖接續(xù)點(diǎn)的連接衰減和光纜的彎曲衰減組成。

　　中繼段衰減測試的主要方法有剪斷法、插入法和后向法3種，其測試方法與步驟同單盤衰減測試。

　　(2)光針后向散射曲線測試

　　中繼段光纜后向散射曲線的測試方法與步驟和單盤光纜的后向曲線測試方法相同，但曲線的分析方法有所不同。中繼段光纜后向散射曲線的分析方法如下。

　　·觀察曲線的全部(全程)有無異常。當(dāng)發(fā)現(xiàn)可疑點(diǎn)時，應(yīng)將可疑點(diǎn)及周圍區(qū)域放大觀察.以便于正確判斷。

　　·根據(jù)光纖接續(xù)情況，抽查核實(shí)接續(xù)點(diǎn)的連接衰減和接續(xù)點(diǎn)的距離。

　　·測量光纖的線路衰減、長度和部分反射點(diǎn)的反射損耗(或測量回波損耗)。

　　·按沒計文件要求，記錄(或打印)測試曲線。檢測結(jié)果應(yīng)將測試數(shù)據(jù)、測試條件記入竣工測試記錄的《中繼段光纖后向散射曲線檢測記錄》中。

　　·中繼段光纖后向散射曲線，一般要求記錄一個方向上的完整曲線(A-B或B-A)，以便于今后維護(hù)測量時與之對比。有條件(或設(shè)計文件有要求)時，可記錄兩個方向的測試曲線(A-B和B-A)。

　　(3)光纖連接衰減測試

　　光纖連接衰減測試是對光纖接續(xù)工件的檢驗，是竣L技術(shù)文件的重要組成部分，也是光纖鏈路整體衰減的組成部分，對光纖鏈路的光特性傳輸有重要影響。光纖連接衰減的測量一般采用“四點(diǎn)法”，具體測試方法與步驟如下(以HP8147為例)。

　　·打開一條已測(或現(xiàn)場測量)后向散射曲線。

　　·將游標(biāo)C移動到所要測量的連接點(diǎn)。

　　·按軟功能鍵“分析”菜單，選擇“插入損耗”項，此時屏幕上游標(biāo)C兩側(cè)出現(xiàn)4個圓點(diǎn)(分居游標(biāo)C的兩側(cè))。

　　·利用“改動”旋鈕順次激活4個點(diǎn)，并按規(guī)定放置在相應(yīng)點(diǎn)上。

　　·在屏幕下方的游標(biāo)信息的“C點(diǎn)的插損”處，可直接讀取的數(shù)據(jù)即為該點(diǎn)的連接衰減(儀表參數(shù)叫插入損耗或叫插損)。

　　操作方法與步驟隨所用儀表的不同而有所不同。實(shí)際測試時應(yīng)根據(jù)所用儀表的要求，靈活運(yùn)用，以獲取最準(zhǔn)確的測試結(jié)果為目的。

　　2、電特性測試

　　中繼段電特性測試方法與測試項目基本同單盤光纜電特性測試，只是測試距離較長。電特性測試指標(biāo)應(yīng)達(dá)到設(shè)汁要求，或符合相關(guān)的國標(biāo)文件。測試合格后應(yīng)及時做好記錄，并填如相關(guān)的竣工測試之中。

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